Осциллограф-мультиметр портативный двухканальный GW INSTEK 200 МГц GDS-7320

Портативный двухканальный осциллограф-мультиметр GW Instek GDS-7320 предназначен для проведения измерений в различных областях электроники и электротехники. Устройство обладает полосой пропускания 200 МГц и максимальной частотой дискретизации 1 ГГц. Интегрированный мультиметр позволяет измерять напряжение, ток, сопротивление, а также выполнять прозвонку цепи и проверку диодов.

Осциллограф оснащен цветным сенсорным TFT-дисплеем с диагональю 17,8 см и разрешением 480х800 пикселей. Объем памяти составляет 5 МБ, что обеспечивает сохранение до 30 000 осциллограмм. Прибор поддерживает различные режимы синхронизации, включая синхронизацию по длительности импульса и ТВ-синхронизацию. Доступны математические функции, такие как сложение, вычитание, умножение, деление, БПФ и инверсия.

Модель GDS-7320 подходит для использования в полевых условиях благодаря встроенному Li-pol аккумулятору, обеспечивающему до 4 часов автономной работы. Наличие USB-интерфейса упрощает передачу данных на внешние устройства. Устройство также включает встроенный инженерный калькулятор и программу для определения параметров SMD-компонентов, что расширяет его функциональные возможности.

Прибор может быть использован инженерами, техниками и специалистами по ремонту электроники для диагностики и тестирования различных систем. В комплект поставки входит адаптер питания и аккумулятор. Дополнительно может быть приобретен двухканальный дифференциальный пробник GDP-040D.

• Цифровой осциллограф, мультиметр с функцией TrendPlot;
• Автоматические и курсорные измерения;
• Синхронизация по длительности импульса и ТВ;
• Математические функции и БПФ;
• Регистратор на 30 000 осциллограмм;
• Мультиметр с измерением напряжения, тока, сопротивления, прозвонкой цепи, проверкой диодов, температуры;
• Функция TrendPlot с 400 измерениями, длительностью от 40 секунд до 6 часов;
• Батарейное питание от Li-pol аккумулятора (до 4 часов работы);
• Встроенный инженерный калькулятор и программа для определения параметров SMD-компонентов.